2021年沈阳建筑大学材料分析测试技术考研加试大纲及参考书目

2021年硕士研究生考试同等学力加试 材料分析测试技术 科目考试大纲

一、考查目标

本科目主要考查学生对X射线、电子显微等近代分析测试技术研究材料微观组织、结构及成分分析的基本原理、仪器构造和应用范围等的掌握，并能对测试结果进行科学分析。

二、考试形式与试卷结构

(一)试卷满分及考试时间

试卷满分为100分，考试时间为2小时。

(二)答题方式

闭卷、笔试。

(三)试卷内容结构

X射线分析理论基础：占20%

X射线衍射方法及衍射分析：占30%

TEM分析：占10%

SEM分析：占25%

其它材料分析测试技术：占15%

(四)试卷题型结构

名词解释：20%

简答题：50%

论述题：30%

三、考查内容及要求

(一)X射线分析理论基础

1.X射线的本质及x射线谱;

2.X射线与物质的相互作用;

3.X射线衍射与布拉格方程;

4.倒易点阵;

5.X射线衍射强度与结构因数的计算。

要求：掌握X射线物理学基础(X射线本质、X射线谱、X射线与物质相互作用);理解X射线运动学衍射理论，能够运用Ewald图解进行衍射分析，会进行衍射强度的计算，熟悉倒易点阵。

(二)X射线衍射方法及衍射分析

1.粉末照相法;

2.X射线衍射仪法;

3.物相的定性分析;

4.物相的定量分析;

5.X射线在材料测试分析方面的其他应用。

要求：掌握两种X射线衍射方法(粉末照相、多晶衍射仪法);了解晶体取向的测定方法及分析步骤;能够进行点阵常数的测定;掌握多晶体物相分析并进行相应的定量计算;掌握宏观应力的测定。

(三)TEM分析

1. 电子与物质的交互作用;

2. 透射电镜的结构及应用;

3. 电子衍射及结构分析;

4. 材料薄膜样品的制备与薄晶体样品的衍衬成像原理。

要求：掌握电子与物质相互作用理论。熟练掌握TEM结构、原理、样品制备、金属薄膜的衍射分析。

(四)SEM分析

1. 扫描电镜工作原理、构造和性能;

2. 扫描电镜在材料研究中的应用。

要求：了解扫描电镜的基本结构和工作原理;熟练掌握扫描电镜在材料分析中的应用(表界面、断口分析)。

(五)其它材料分析测试技术

1.热分析及应用;

2.波谱仪及应用;

3.能谱仪及应用;

4.电子探针分析方法及微区成分分析技术。

要求： 掌握热分析技术，熟练掌握波谱仪和能谱仪以及电子探针分析方法。

四、考试用具说明

考试需携带科学计算器。

五、参考书目或参考资料

《无机非金属材料测试方法》，杨南如，2005年重排本，武汉理工大学出版社

《材料分析方法》(第三版)，周玉，2011年，机械工业出版社